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高分辨率CT-X射線顯微成像系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介

微納米高分辨率CT-X射線顯微成像系統(tǒng)(3D-XRM,混凝土微觀分析)是布魯克推出的全新納米斷層掃描系統(tǒng),是顯微 CT 技術(shù)領(lǐng)域的*,在為用戶帶來了終級(jí)分辨率的同時(shí),提供優(yōu)質(zhì)的用戶體驗(yàn)。SKYSCAN 納米CT高分辨率線顯微成像系統(tǒng)(3D-XRM,混凝土微觀分析) 的每個(gè)組件都融入了全新的技術(shù),使其成為當(dāng)今市場上性能、適用性都廣泛的系統(tǒng)。

產(chǎn)品型號(hào):Skyscan2214
更新時(shí)間:2025-04-25
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:4833
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納米高分辨率
CT-X射線顯微成像系統(tǒng)(3D-XRM,混凝土微觀分析)是布魯克推出的全新納米斷層掃描系統(tǒng),是顯微 CT 技術(shù)領(lǐng)域的*,在為用戶帶來了終級(jí)分辨率的同時(shí),提供優(yōu)質(zhì)的用戶體驗(yàn)。


納米高分辨率CT-X射線顯微成像系統(tǒng)(3D-XRM,混凝土微觀分析)的每個(gè)組件都融入了全新的技術(shù),使其成為當(dāng)今市場上性能、適用性都廣泛的系統(tǒng)。

  • 多用途系統(tǒng),大樣品尺寸300mm,分辨率(像素尺寸)高達(dá)60 納米
  • 金剛石窗口x射線源,焦斑尺寸<500nm
  • 創(chuàng)新的探測(cè)器模塊化設(shè)計(jì),支持多 4 個(gè)探測(cè)器、可現(xiàn)場升級(jí)。
  • 快速的 3D 重建軟件(InstaRecon®)。
  • 支持的螺旋掃描重建算法。

以水泥為基材和地質(zhì)科學(xué):表征和定量分析孔隙結(jié)構(gòu)、測(cè)量滲流、研究儲(chǔ)碳過程、分析尾礦、提高開采效率以及了解鋼和其它金屬的顆粒定向。提供的三維亞微米成像,用于數(shù)字巖石物理模擬、原位多相滲流研究、三維礦物學(xué)及金屬的研發(fā)與開發(fā)。

 

該儀器既可以對(duì)直徑大于300毫米的物體的內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行掃描和三維無損重建,也可以對(duì)小樣品進(jìn)行亞微米級(jí)的分辨。

另外,該系統(tǒng)配備了一個(gè)<0.5微米大小的 "開放型 "透射X射線源和一個(gè)金剛石窗口。它可容納四個(gè)X射線探測(cè)器,具有極大的靈活性。自動(dòng)可變的采集幾何和相位對(duì)比度增強(qiáng)可以在相對(duì)較短的掃描時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)優(yōu)秀質(zhì)量。

SKYSCAN 2214 CMOS將為用戶免費(fèi)提供全套的3D Suits軟件套裝。這個(gè)軟件套裝涵蓋了GPU加速重建、二維/三維形態(tài)學(xué)分析以及表面和體積渲染可視化等用戶所需的全部功能。并且該軟件套裝可以進(jìn)行免費(fèi)升級(jí)。

 

 Geology, Oil & gas exploration

 

 

主要特點(diǎn):
   

● X射線光源
   

SKYSCAN 2214采用新一代的開放型X光源。該光源可達(dá)到優(yōu)于500 nm的實(shí)際空間分辨率,高達(dá)160 keV的X光能量,以及高達(dá)16 W的功率。因?yàn)閾碛袠O其簡單的預(yù)先配準(zhǔn)的燈絲更換程序,該光源幾乎不需要維護(hù)。    

SKYSCAN 2214擁有帶金剛石窗口的開放型(泵式)納米焦點(diǎn)X光源。它能產(chǎn)生峰能量從20 kV到160 keV不等的X光束,并提供有兩種類型的陰極。鎢(W)陰極適用于高達(dá)到160 kV的完整加速電壓范圍,光斑尺寸小的達(dá)到800 nm。六硼化鑭(LaB6)陰極適用于從20 kV到100 kV的加速電壓,X光束的光斑尺寸可以小于500 nm,從而確保在成像和三維重建中達(dá)到高分辨率。JIMA分辨率測(cè)試卡顯示,它能輕松解析出500 nm的結(jié)構(gòu)。為了確保焦斑尺寸和發(fā)射源的位置能夠長期保持穩(wěn)定,X光源還能配備水冷系統(tǒng),該系統(tǒng)含有一個(gè)循環(huán)裝置,能精確地控制冷卻液體的溫度以維持溫度的穩(wěn)定。    


   



   

● 探測(cè)器    

SKYSCAN 2214可以配備4個(gè)X射線探測(cè)器,以獲得很大的靈活性:其中包括三臺(tái)具有不同分辨率和視場平衡的科研及sCMOS探測(cè)器,以及一臺(tái)平板探測(cè)器以覆蓋超大視場。用戶只需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo),就可以進(jìn)行探測(cè)器間的任意切換。
   

使用小像素的大尺寸CMOS探測(cè)器可以將高分辨率的三維成像擴(kuò)展到大型物體。內(nèi)置探測(cè)器的靈活性使其能夠根據(jù)物體的大小和密度來調(diào)整視場和空間分辨率。從感興趣的體積進(jìn)行先進(jìn)的重建,從而在不影響圖像質(zhì)量的情況下對(duì)大型物體的選定部分進(jìn)行局部高分辨率掃描。    

此外,通過使用偏移的探測(cè)器位置和垂直方向的物體移動(dòng),可以分別增加水平和垂直的視場。之后,3D.SUITE軟件自動(dòng)將不同的圖像拼接在一起,并對(duì)偏移和可能的強(qiáng)度差異進(jìn)行準(zhǔn)確的補(bǔ)償。    

隨著研究課題和分析需求的發(fā)展,探測(cè)器可以在系統(tǒng)使用期內(nèi)的任何時(shí)間點(diǎn)進(jìn)行現(xiàn)場升級(jí)。    


   


   

 

● 原位實(shí)驗(yàn)臺(tái)

SKYSCAN 2214 CMOS Edition擁有高度準(zhǔn)確的樣品臺(tái),支持直徑達(dá)到300 mm和重量達(dá)到20 kg的物體??諝鈶腋∈叫D(zhuǎn)馬達(dá)能以非常高的準(zhǔn)確度精確地旋轉(zhuǎn)物體位置,集成的精密定位平臺(tái)能保證樣品完全對(duì)準(zhǔn)。

SKYSCAN 2214 CMOS Edition擁有一個(gè)很大的且使用方便的樣品室,方便掃描大型物體和安裝可選的試驗(yàn)臺(tái)。它有足夠的空間可供容納原位試驗(yàn)臺(tái)等外圍設(shè)備。

Bruker的材料試驗(yàn)臺(tái)可以進(jìn)行4400 N的壓縮試驗(yàn)和440 N的拉伸試驗(yàn)。所有試驗(yàn)臺(tái)都能通過系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)臺(tái)自動(dòng)聯(lián)系到一起,而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件,可以設(shè)置預(yù)定掃描試驗(yàn)。

布魯克的加熱臺(tái)和冷卻臺(tái)可以達(dá)到+80ºC或低于環(huán)境溫度低30ºC的溫度。和其它的試驗(yàn)臺(tái)一樣,加熱和冷卻臺(tái)也不需要任何額外的連接,系統(tǒng)可以自動(dòng)地識(shí)別不同的試驗(yàn)臺(tái)。通過使用加熱臺(tái)和冷卻臺(tái),可在非環(huán)境條件下檢測(cè)樣品,從而評(píng)估溫度對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的影響。

SKYSCAN 2214 CMOS Edition與DEBEN試驗(yàn)臺(tái)完全兼容。借助自帶的適配器,DEBEN試驗(yàn)臺(tái)可以很容易地被安裝到SKYSCAN 2214的旋轉(zhuǎn)臺(tái)上。

 

   

                                   

                                      
高低溫原位試驗(yàn)臺(tái)                            

力學(xué)拉伸/壓縮原位試驗(yàn)臺(tái)                

兼容Deben樣品臺(tái)            


 

SkyScan2214 CMOS 應(yīng)用實(shí)例

 

● 增材制造

增材制造通常也被稱為“3D打印”,可以用于制造出擁有復(fù)雜的內(nèi)外部結(jié)構(gòu)的部件。和需要特殊模具或工具的傳統(tǒng)技術(shù)不同,增材制造既能用于經(jīng)濟(jì)地生產(chǎn)單件產(chǎn)品原型,也能生產(chǎn)大批量的部件。生產(chǎn)完成后,為了確保生產(chǎn)出的部件性能符合預(yù)期,需要驗(yàn)證內(nèi)部和外部結(jié)構(gòu)。XRM能以無損的方式完成這種檢測(cè),確保生產(chǎn)出的部件符合或超出規(guī)定的性能。

◇ 檢查由殘留粉末形成的內(nèi)部空隙

◇ 驗(yàn)證內(nèi)部和外部尺寸

◇ 直接與CAD模型作對(duì)比

◇ 分析由單一材料和多種材料構(gòu)成的組件

 

 

 

● 纖維和復(fù)合材料

通過將材料組合成復(fù)合材料,獲得的組件可以擁有更高的強(qiáng)度,同時(shí)大大減輕重量。而要想進(jìn)一步優(yōu)化組件性能,就必須確保組成成分的方向能被優(yōu)化。常用的組分之一是纖維,有混凝土中的鋼筋,電子元件中的玻璃纖維,還有航空材料中的碳納米管。XRM可用于檢測(cè)纖維和復(fù)合材料,而無需進(jìn)行橫切,從而確保樣品狀態(tài)不會(huì)在制備樣品的過程中受到影響。

◇ 嵌入對(duì)象的方向

◇ 層厚、纖維尺寸和間隔的定量分析

◇ 采用原位樣品臺(tái)檢測(cè)溫度和物理性質(zhì)


 

 

● 地質(zhì)


研究地質(zhì)樣品——無論是地下深處的巖心樣品還是地面之上的巖石,能為探索我們所在世界的形成過程提供豐富的信息。分析時(shí)通常需要破壞原始樣品,消除內(nèi)部結(jié)構(gòu)的重要起源。XRM可在無需切片的情況下分析樣品,因而能夠更快地得到結(jié)果,也使樣品未來能夠繼續(xù)用于分析。

◇ 根據(jù)密度對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維可視化

◇ 孔隙網(wǎng)絡(luò)的可視化

◇ 數(shù)字切片允許使用標(biāo)準(zhǔn)地質(zhì)分析方法

 

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